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  • 光柵尺接數顯表使用時注意事項1.光柵尺傳感器與數顯表插頭座插拔時應關閉電源后進行。2.盡可能外加保護罩,及時清理濺落在尺上的切削和油液,嚴格防止何異物進入殼體內部。3.定期檢查各連接螺絲是否松動。4.為延長防塵密封條的壽,可在密封條上均勻涂上薄層硅油,注意勿濺落在玻璃光柵刻劃面上。5.為光柵尺傳感器使用的可靠性,可每隔定時間用乙醇混合液(各50%)清洗擦拭光柵尺面及指示光柵面,保持玻璃光柵尺面清潔。6.光柵尺傳感器嚴禁劇烈震動及摔打,以免破壞光柵尺,如光柵尺斷裂,光柵尺傳感器即失了。7.不要自行拆開光柵...

    5-7 2015

  • 涂層測厚儀電渦流測量原理磁吸力測量原理*磁鐵(測頭)與導磁鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成定比例關系,這個距離是覆層的厚度。利用這原理制成測厚儀,只要覆層與基材的導磁率之差足夠大,可進行測量。鑒于大多數工業品采用結構鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性測厚儀應用廣。測厚儀基本結構由磁鋼,接力簧,標尺及自停機構組成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當拉力剛大于吸力,磁鋼脫離的瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。新型的產品可以自動完成這記錄過程。不同的型號有不同的量程...

    4-27 2015

  • 磁吸力測量原理及測厚儀對材料表面保護、裝飾形成的覆蓋層,如涂層、鍍層、敷層、貼層、化學生成膜等,在有關和標準中稱為覆層(coating)。覆層厚度測量已成為加工工業、表面工程質量的重要環,是產品達到優等質量標準的*手段。為使產品化,我國出口商品和涉外項目中,對覆層厚度有了明確的要求。覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線法...

    4-13 2015

  • 影響涂層測厚儀測量因素簡析1、基體金屬磁性磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為時輕微的)。為了避免熱處理、冷加工等因素的影響,應使用與試件金屬具有相同性質的鐵基片對儀器進行校準。2、基體金屬厚度每種儀器都有個基體金屬的臨界厚度。大于這個厚度測量不受基體厚度的影響。3、邊緣應本儀器對試片表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試片邊緣或內轉角處進行測量是不可靠的。4、曲率試件的曲率對測量有影響,這種影響總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此不應在試件超過允許的曲率半徑的彎曲面...

    3-30 2015

  • 比色計和色差儀的區別比色計原理:當單色光通過厚度相同,而濃度很小的溶液時,根據朗伯—比爾定律,光被溶液吸收的程度,稱為吸收度,與溶液的濃度成正比,與溶液的厚度成正比,即A=εCL,式中:A為吸收度,C為溶液的濃度,L為溶液的厚度,ε為消光系數。由朗伯—比爾定律得,當束單色光通過溶液時,由于溶液吸收部分光能,使光的度減弱。若溶液的濃度(或厚度)不變,則溶液的厚度(濃度)愈大,光線度的減弱也愈明顯常用的比色法有兩種:目視比色法和光電比色法,前者用眼睛觀察,后者用光電比色計測量,兩種方法都是以朗伯-比...

    3-26 2015

  • 原變*為Magnescale.Co;Ltd 告知書致廣大客戶告知書尊敬的客戶朋友現告知:從2010年4月1日起,原SonyManufacturingSystemsCorporation,現*名為Magnescale.Co;Ltd。以上,請知悉謝謝蘇州量子儀器有限公司2010年4月

    6-3 2014

  • 收購尼康高度計,尼康投影儀,尼康顯微鏡等……收購尼康高度計,尼康投影儀,尼康顯微鏡等……如MF-501,MF-1001,MFC-101A,MS-11C,MS-4G詳情可以直接郵件:@vip.163.com

    8-23 2013

  • 本公司常年銷售濠投影儀,新天投影儀本公司常年銷售濠投影儀,新天投影儀,各種影像測量儀等……本公司常年提供以舊換新計劃,根據貴公司的儀器新舊程度來評估格,已多退少補的方式進行。歡迎有需要二手投影儀的用戶,或者有二手投影儀需要處理的也可。見公司。

    8-23 2013

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